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Zur Herstellung und elektrischen Charakterisierung von Gate-Oxiden auf Siliziumkarbid
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Autor: Elard Gottfried Stein von Kamienski Verlag: Shaker Verlag Taschenbuch Auflage: Seiten: 158 ISBN-10: 3-8265-2030-0 ISBN-13: 978-3-8265-2030-3 ISBN: 3826520300 Preis: Preis und Verfügbarkeit anzeigen weitere Infos | Rezensionen | kaufen |
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